- 部品番号SN74BCT8240ADWRE4
- ブランドTexas Instruments
- ライフサイクルステータス Active
- RoHS RoHS Compliant
- 説明IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
- カテゴリーロジック-特殊ロジック
在庫あり: 2,689
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技術的な詳細
- シリーズ:74BCT
- パッケージ:Tape & Reel (TR)
- 部品ステータス:Obsolete
- 論理型:Scan Test Device with Inverting Buffers
- 供給電圧:4.5V ~ 5.5V
- ビット数:8
- 作動温度:0°C ~ 70°C
- 取付タイプ:Surface Mount
- パッケージ/ケース:24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
- サプライヤーデバイスパッケージ:24-SOIC
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