- 部品番号SN74BCT8374ANTG4
- ブランドTexas Instruments
- ライフサイクルステータス Active
- RoHS RoHS Compliant
- 説明IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
- カテゴリーロジック-特殊ロジック
在庫あり: 2,207
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技術的な詳細
- シリーズ:74BCT
- パッケージ:Tube
- 部品ステータス:Obsolete
- 論理型:Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
- 供給電圧:4.5V ~ 5.5V
- ビット数:8
- 作動温度:0°C ~ 70°C
- 取付タイプ:Through Hole
- パッケージ/ケース:24-DIP (0.300", 7.62mm)
- サプライヤーデバイスパッケージ:24-PDIP
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